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QCM-I、QCM-I Mini及eQCM-I Mini 系列产品由匈牙利MicroVacuum 公司生产，Gamry与MicroVacuum 公司已经成为合作伙伴，Gamry是上述产品在中国和美国的Wei Yi供应商。
普通的QCM一般测量晶片频率的变化，依据Sauerbrey方程，计算石英晶片上质量的变化，该公式适用于刚性薄膜的分析。但很多溶液中的吸附层，如某些聚合物、生物分子、纳米粒子膜等都具有柔性的性质，这样的情况下，石英晶片振动过程中将会有明显的能量耗散，此时如果仍然使用Sauerbrey方程计算质量变化，将会产生较大的偏差。
CM-I 系列石英晶体微天平是基于对石英晶片进行阻抗分析基础上的高度灵敏的质量传感器，测量共振频率及共振电导曲线的带宽或半峰宽（FWHM），它们与品质因子Q直接相关，品质因子Q是耗散因子D的倒数。
该系列产品能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等过程。
系列产品兼容较宽的频率范围（1-80MHz），同时对于5MHz可做到13倍频，液相中标准耗散因子精度： 1 x 10-7（1E-7），可以得到更多有效的样品信息。还可以选配电化学模块，在QCM测试的同时进行电化学扫描 .也可以选择配置多通道，方便进行对比实验、平行试验等。在同类产品中具备较多的优势。
更多详细信息，请联系Gamry公司工作人员。
