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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9200系列

2019-01-15 09:200询价
价格:未填
品牌:日立/Hitachi
发货:3天内
发送询价
型号 FT9250 FT9255
测量元素 原子序号Ti(22)~Bi(83)
原子序号21以下的元素可通过吸收法测量
X射线源 空冷式小型X射线管
管电压:50(可变更)kV
管电流: 10~1000 µA
检测器 比例计数管
准直器 ○型:0.05, 0.1, 0.2 mmΦ
□型:0.025 × 0.2, 0.2 × 0.025 mm
样品观察 CCD摄像头+变焦光学系统
X射线聚光 激光对焦
滤波器 Co-自动切换
样品区域 X:430 mm, Y:330 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:50 mm
X:700 mm, Y:600 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:15 mm
测量软件 薄膜FP法(最大5层、10种元素)、检量线法
安全功能 样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能

选购项

 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。
是FT3000系列的后续机型。
依据照明,可以看到以前观察困难的样品。
搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。(任选)
搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。(任选)


 
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